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    1. Mecmesin提供電腦控制測試系統MultiTest 2.5-i進行PCB板剝離測試

      發布時間:2018-12-12 15:36 閱讀次數:

      Cambridge Nanotherm Ltd為電子元器件熱管理系統生產一種特別的高科技底座。他們的專利技術——nanotherm™在鋁基板的表面上創造了一種納米陶瓷的介電層。金屬的印刷電路板(MBPCB)產品利用這一過程提供業界優質的低熱阻和顯著減少元件的工作溫度的能力。導電銅和陶瓷層接合可以使用標準的技術模式,允許客戶進行易于制造的設計。 基板粘合性是材料性能的關鍵因素, 剝離強度以Institute of Printed Circuits 的IPC-TM-650為測試標準。為了適應日益加強的工業標準質量,創新產品,豐富產品,公司需要一種方案來測試幫助他們提供產品的標準。

      Mecmesin向Cambridge Nanotherm提供一個單柱電腦控制測試系統結合一個輔助剝離測試臺面來準確地進行90度的剝離測試。因為之前用過其它設備做過類似的測試,該公司可以從之前的測試庫獲取數據,用以校準現行的測試數據,進而驗證測試全過程的準確性和適用性。輕量捏夾可以安全地夾持住薄樣品的整個寬度,用靈活鏈節配合水平驅動板面,既避免樣品斷裂,又確保了十字頭行程的垂直,從而在沒有震動或添加噪聲的情況下完成90度剝離的測量。整個剝離測試以恒速2 ”/min進行,然后得出突出力值的平均值。Emperor™ 軟件控制整個測試過程,其編程的靈活性讓該公司在需要的情況下進行其它的測試,進而保證其產品的尖端技術和質量。這套內檢測系統也能夠幫助公司優化設計周期,節約第三方檢測成本。

      Mecmesin的高級電腦控制拉伸和壓縮測試系統MultiTest 2.5-i(2.5 kN)提供強大而全面的拉伸和壓縮測試系統,可測量高達2.5 kN的力。MultiTest 2.5-i 具有完整的編程功能和多種分析選項,通過Emperor™軟件的強大功能,提供無與倫比的測試多功能性。該系統與Mecmesin的高性能負載單元(ILC)相結合,確保了出色的分辨率和出色的精度。

      技術規格:

      •壓縮測試儀和張力測試

      •比較大載荷2500 N(550 lbf)

      •十字頭移動高達590 mm (23.2")

      •比較大樣品直徑134mm (5.28")

      •13 N種不同的傳感器容量,從2 N到2500 N(0.45 - 550 lbf)

      •負載分辨率為1:6500

      •傳感器精度為滿量程的±0.1%

      •速度范圍為1 - 1000 mm / min(0.04 - 39.4“/ min),比較高2 kN ;1 - 750 mm / min(0.04 - 30”/ min),高于2 kN

      •重量36 kg (79 lb)

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