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RIGAKU測量儀TXRF 3760

RIGAKU測量儀TXRF 3760 TXRF分析可以衡量所有晶圓廠工藝中的污染，包括清潔，光刻，蝕刻，灰化，薄膜等。TXRF 3760可以使用單靶3束X射線系統和液氮測量從Na到U的元素探測器系統。 TXRF 37...

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2020

07-01

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